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      平行平晶
      類別:平行平晶
      平行平晶是以光波幹涉原理爲基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的幹涉條紋來測量被測量面的誤差程度。 一般由4塊厚度不同的平晶組合而成使用,也可一個單獨使用。
      平行平晶具有高精度的平面性和平行性。

       1.產品執行標準:JB/T 7402
      2.產品規格明細表:

      產 品 名 稱
      直徑、厚度
      精   度
      高精度平行平晶
      φ30*12
      平面度<0.1μm
      平行度<0.2μm
      一般精度平行平晶
      φ30*12
      平面度<0.2μm
      平行度<0.4μm

      0-25mm千分尺專用平晶   

      4塊/組

      φ30*12/12.12/12.25/12.37

      平面度0.03μm

      平行度<0.2μm

      25-50mm千分尺專用平晶   

      4塊/組

      φ30*25/25.12/25.25/25.37

      平面度0.03μm

      平行度<0.2μm

      0-25mm千分尺專用平晶   

      4塊/組

      φ30*12/12.12/12.25/12.37

      平面度0.1μm

      平行度<0.2μm

      25-50mm千分尺專用平晶   

      4塊/組

      φ30*25/25.12/25.25/25.37

      平面度0.1μm

      平行度<0.2μm


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